快速溫度老化測試箱是模擬氣溫變化試驗的設備，現實環(huán)境中的氣溫變化分日變化和年變化。日變化，高氣溫是午后2時左右，低氣溫是日出前后。年變化，北半球陸地上7月份熱1月冷，海洋上8月份熱2月份冷；南半球與北半球相反。還有一種就是人工變化，就是因為人為導致一些設備在搬移或者擺放在不同的環(huán)境中面臨不同的氣溫變化，為了能提前預知產品的耐變性，所以廣大需求者需要購買快速溫變試驗箱回去做評估或者預測試驗。

快速溫度老化測試箱適用于通訊、光電、航空航天等產品試驗用，還適合于信息電子儀器儀表、電工、安防產品、材料、電子產品、各種電子電器元氣件在溫度快速轉變的情況下檢驗其的各項性能指標是否有變化或者影響。常做的溫變率有:15℃/min、10℃/min、5℃/min、20℃/min、25℃/min（可選擇線性或非線性變化）。

符合標準：

GJB/150.3A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗。

GJB/150.4A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗。

GB/T 5170.1-2008  電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則。

GB/T 2423.3-2006  電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗。

GB/T 2423.4-2008  電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）。

GJB/150.9A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗。

GB/T 2423.1-2008  電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫。

GB/T 2423.2-2008  電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫。

GB/T 2423.22-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化。

GB/T 10586 -2006  濕熱試驗箱技術條件；GB/T 10592 -2008  高低溫試驗箱技術條件。