大型高溫老化試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥、安防、照明等領(lǐng)域。根據(jù)不同的要求配置主體系統(tǒng)、主電系統(tǒng)、控制系統(tǒng)加熱系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、風(fēng)力恒溫系統(tǒng)、時(shí)間控制系統(tǒng)、測(cè)試負(fù)載等，通過(guò)此測(cè)試程序可檢查出不良品或不良件，給客戶(hù)迅速找出問(wèn)題、解決問(wèn)題提供了有效手段，充分提高客戶(hù)生產(chǎn)效率和產(chǎn)品品質(zhì)。

大型高溫老化試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)：

《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》GB/T2423.2-2001

《低壓配電設(shè)計(jì)規(guī)范》GB50054-95

《供配電設(shè)計(jì)規(guī)范》GB5002S2-95

《電氣裝置安裝工程接地裝置施工及驗(yàn)收規(guī)范》GB50169-92

GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法;

GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法;

GB/T2423.3-2006濕熱試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法;

GB/T2423.4- 2008交變濕熱試驗(yàn)方法;

GB/T2423.22- 2002溫度變化試驗(yàn)方法;

IEC60068-2-1: 2007 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法;

IEC60068-2-2: 2007 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法;

GJB150.3高溫試驗(yàn); GJB150.4 低溫試驗(yàn); GJB150.9 濕熱試驗(yàn);

IEC68-2-1試驗(yàn)A:寒冷; 1EC68-2-2 試驗(yàn)B:干熱;